适用于BGA, LGA, QFN, DFN 等各种IC类封装

用于芯片的快速验证、测试

适用于机测：转塔式分选机、平移式分选机、烧录机

pogo pin 测试寿命：＞220K次，OS测试寿命＞1300K次

pogo pin 适用于大间距芯片 

pogo pin 适用于小间距芯片，间隙＞0.22mm

支持定制各类异性pogo pin

适用于BGA, LGA, QFN, DFN 等各种IC类封装

用于芯片的快速验证、测试

适用于机测：转塔式分选机、平移式分选机、烧录机

pogo pin 测试寿命：＞220K次，OS测试寿命＞1300K次

pogo pin 适用于大间距芯片 

pogo pin 适用于小间距芯片，间隙＞0.22mm

支持定制各类异性pogo pin