什么是IC老化测试？就是通过模拟设备在实际使用中受到的各种应力、老化设备封装和芯片的弱点，加快了设备实际使用寿命的验证。

那么IC老化测试的目的是什么呢？

IC老化测试的最终目的是预测产品的使用寿命，评估产品的耐久性。半导体技术发展越来越快，芯片的制作、封装等过程的要求更加严格，在为了在产品交付后才发现有问题，这对客户是非常不负责任的。因此，需要在生产制作的各个环节设置芯片老化测试，以确保芯片不用重复焊接。

那么以上及时IC老化测试的最终目的的相关介绍，希望对大家有所帮助。