IC老化测试应该注意哪些要点?今天，就让小编带大家了解一下~

一.应该在什么环境条件下进行老化？

一般来说，贴合实际使用的测试是比较符合要求的，但是由于需要在短时间内搞定测试要求，所以需要测试要求和环境条件超级加倍；

例如，测试时候的温度，需要高温高湿度以及蒸煮等等。

二.是否应该在系统、子系统或组件级别完成老化？

最佳的状态最好是系统级别的老化，但是这种老化的话，对测试设备有很高的要求，毕竟全套的系统成本很高。子系统的话，针对某个特定的功能，这样的话，成本会比较适中。组件级别的测试会比较简单，测试成本也更低，但是组件测试更加单一。

三.谁应该负责供应商、买方或第三方的老化？

这个看需求，一般大厂芯片测试比较完善的，所以一般来说是不需要重测。不过一般的测试都是由买方和卖方来做，最终都是以为终端客户服务为准。

四.老化后的预期寿命是多少？它与没有老化的预期寿命有何不同？

老化后的预期寿命也会是有对应的数值的，一般来说，125℃，测试1000小时，预期寿命可以到3~5小时；2000小时，可以使用到7~10小时；150℃，测试1000小时，预期寿命7~10小时；测试2000小时，可以使用到20年左右；经过老化测试之后的预期寿命，预期寿命更有依据。

五.老化是否总是必要且经济的？

之前也做了老化成本的分析，经济不经济和必要不必要需要看芯片的情况。例如车规芯片，涉及行车安全，其测试更加严格，寿命更长，要求的测试环境更加苛刻。

芯片行业的老化数据会对行业的发展产生非常积极的影响，会不断的推动这个行业朝着好的方向发展。