XTD自主研发及加工工艺，稳定的测试性能和使用寿命，

 频宽： > 60GHZ @-1db，出色的高频高速性能

 电阻： 50mΩ （可调整阻抗设计）

 适用于间距： 0.4mm-1.27mm

 测试行程：0.3mm -0.65mm

  探针寿命： 300万-800万次（因测试条件不同结果不同）

  弹簧弹力： 20g ~ 30g per Pin

 工作温度： -55~ 155度（支持三温测试）

  适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP,等封装

  适用于：射频开关,滤波器,放大器,衰减器,巴伦,射频微波器件。

  适用于手测、机测等，多种测试

  探针可更换，维修方便，成本低

  测试插座及座头材料： AL，全金属壳体，拥有优秀的散热和信号屏蔽性能，

  探针类型： 特殊探针（添加屏蔽层）

XTD自主研发及加工工艺，稳定的测试性能和使用寿命，

 频宽： > 60GHZ @-1db，出色的高频高速性能

 电阻： 50mΩ （可调整阻抗设计）

 适用于间距： 0.4mm-1.27mm

 测试行程：0.3mm -0.65mm

  探针寿命： 300万-800万次（因测试条件不同结果不同）

  弹簧弹力： 20g ~ 30g per Pin

 工作温度： -55~ 155度（支持三温测试）

  适用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP,等封装

  适用于：射频开关,滤波器,放大器,衰减器,巴伦,射频微波器件。

  适用于手测、机测等，多种测试

  探针可更换，维修方便，成本低

  测试插座及座头材料： AL，全金属壳体，拥有优秀的散热和信号屏蔽性能，

  探针类型： 特殊探针（添加屏蔽层）